X線結晶構造解析入門 強度測定からCIF投稿まで

目次 : １章　Ｘ線回折法の原理/ ２章　結晶構造の対称性/ ３章　構造モデルの導出および精密化/ ４章　単結晶育成と測定の用意/ ５章　Ｘ線回折強度の測定/ ６章　構造解析の実際の流れ/ ７章　構造解析の落とし穴/ ８章　ＣＩＦ/ ９章　トラブルシューティング/ １０章　ＳＨＥＬＸの使い方

【著者紹介】
大場茂 : １９５３年山形県生まれ。１９７２年秋田県立秋田高校卒業。１９７６年東北大学理学部化学科卒業。１９８１年東京大学大学院理学系研究科博士課程修了。慶應義塾大学理工学部化学科助手。１９９３年同助教授。２００１年慶應義塾大学文学部教授。理学博士

植草秀裕 : １９６４年東京都生まれ。１９８３年慶應義塾高等学校卒業。１９８７年慶應義塾大学理工学部化学科卒業。１９９２年慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了。東京工業大学理学部化学科助手。１９９９年東京工業大学大学院理工学研究科助教授。２００９年同准教授。理学博士（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

大場茂

上智大学法学部法律学科卒業。大学卒業後、公務員を経て、各種学校などで、宅地建物取引士試験、管理業務主任者資格試験、マンション管理資格試験、行政書士試験、公務員など、各種資格試験指導にあたる。初学者に対する全体構造の提示の巧みさと、具体性に富みながら、論理的でテンポの良い講義には定評がある。現在、研修

プロフィール詳細へ