信頼性デ-タ解析

ＧＰＳとインターネットを通して、全世界より瞬時に信頼性データを収集・活用し得る時代。本書では、信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果を併せて解説する。

【著者紹介】
鈴木和幸 : １９５０年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Ｗｉｌｃｏｘｏｎ　Ａｗａｒｄ（米国品質学会、米国統計学会、１９９９年）

益田昭彦 : １９４０年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。現在、帝京科学大学生命環境学部環境学科客員教授。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ａｗａｒｄ（２００７年信頼性技術功績賞）

石田勉 : １９４６年生まれ。信州大学卒業。日本ケミカルコンデンサ株式会社で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム株式会社で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。ＩＥＣ／ＴＣ５６ディペンダビリティ国内委員会委員。日本信頼性学会シンポジウム実行委員会

横川慎二 : １９７０年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士（工学）。現在、ＮＥＣエレクトロニクス株式会社、基盤技術開発本部先端デバイス開発部チームマネージャー。日本電子部品信頼性センター２０００年信頼性シンポジウム優秀論文賞、日本信頼性学会２００３年高木賞、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｓｏｃｉｅｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ａｗａｒｄｓ　２００７年論文賞など（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）