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ISBN 10 : 4320044053
Content Description
目次 : 1 ICP‐MSの原理と装置構成/ 2 干渉の種類と補正法/ 3 微量分析のためのコンタミネーション防止/ 4 ICP‐MSの複合分析装置/ 5 同位体希釈質量分析法/ 6 ICP‐MSの実試料への応用
【著者紹介】
田尾博明 : 1982年東京大学大学院理学系研究科化学専攻修士課程修了。現在、国立研究開発法人産業技術総合研究所四国センター所長・理学博士。専門は分析化学
飯田豊 : 1988年早稲田大学大学院理工学研究科資源及び原料工学専攻修士課程修了。現在、株式会社東レリサーチセンター東京営業第2部長。専門は無機分析化学
稲垣和三 : 2000年名古屋大学大学院工学研究科応用化学専攻博士課程後期課程修了。現在、国立研究開発法人産業技術総合研究所物質計測標準研究部門環境標準研究グループグループリーダー・博士(工学)。専門は無機分析化学
高橋純一 : 1981年東京大学大学院理学系研究科化学専攻博士課程修了・理学博士。2014年アジレントテクノロジーインターナショナル株式会社退職。現在、フリー。専門は無機分析化学(原子スペクトル分析)
中里哲也 : 1996年九州大学大学院理学研究科化学専攻博士後期課程修了。現在、国立研究開発法人産業技術総合研究所環境管理研究部門環境計測技術研究グループ主任研究員・博士(理学)。専門は分析化学(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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