Jmpによる信頼性工学 製品の寿命予測とデータ解析

ＪＭＰによる正確な製品寿命予測で従来の方法からの脱却。信頼性の基礎と多種の寿命予測方法、新たな信頼性技術を含んだ体系的な解説書。

目次 : 第１章　信頼性活動における寿命データの取り扱い/ 第２章　一変量の分布/ 第３章　寿命の二変量の関係/ 第４章　加速試験のデータ分析/ 第５章　ステップストレス試験のデータ分析/ 第６章　劣化や破壊データの分析/ 第７章　修理系システムの傾向分析/ 第８章　信頼性向上活動の評価/ 第９章　寿命データの多変量解析

【著者紹介】
広野元久 : 株式会社リコー。ＮＡ事業部ＳＦ事業センタ所長、ヘルスケア事業本部品質保証・薬事推進室長を経て、リコー倫理審査委員会委員。東京理科大学工学部経営工学科非常勤講師（１９９７‐１９９８）。慶應義塾大学総合政策学部非常勤講師（２０００‐２００４）

遠藤幸一 : 株式会社東芝、東芝デバイス＆ストレージ株式会社パワーＩＣ製品技術部、ディスクリート半導体信頼性技術部など。パワーＩＣの製品開発、故障解析などを担当（〜２０２１）。電気通信大学非常勤講師（２０２１〜）。桜美林大学非常勤講師（２０２１〜）。国立研究開発法人産業技術総合研究所先進パワーエレクトロニクス研究センター招聘研究員（２０２１〜）。日本信頼性学会理事（２０１７〜）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）