固体表面キャラクタリゼーション 機能性材料・ナノマテリアルのためのスペクトロスコピー Ks化学専門書

目次 : 総論：固体表面のキャラクタリゼーション/ Ｘ線回折法（ＸＲＤ）/ Ｘ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）/ 光電子分光法（ＸＰＳ、ＵＰＳ）/ 紫外可視分光法（ＵＶ‐ｖｉｓ）・光ルミネセンス分光法（ＰＬＳ）/ 赤外分光法（ＩＲ）・ラマン分光法・近赤外分光法（ＮＩＲ）/ 電子スピン共鳴分光法（ＥＳＲ）/ 核磁気共鳴分光法（ＮＭＲ）/ 電子顕微鏡（ＳＥＭ、ＴＥＭ、ＳＴＥＭ）/ 走査型プローブ顕微鏡（ＳＴＭ、ＡＦＭ）/ 二次イオン質量分析/ 組成分析/ 吸着・脱着/ 昇温法（ＴＧ，ＤＴＡ，ＴＰＤ，ＴＰＲ）/ 電気化学測定/ ケーススタディ

【著者紹介】
山下弘巳 : 博士（工学）。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職

吉田寿雄 : 博士（工学）。京都大学大学院人間・環境学研究科相関環境学専攻教授。１９９５年京都大学大学院工学研究科分子工学専攻博士課程中途退学。名古屋大学工学部助手、名古屋大学エコトピア科学研究所助教授などを経て、現職

田中庸裕 : 博士（工学）。京都大学大学院工学研究科分子工学専攻教授。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。北海道大学理学部助手、京都大学大学院工学研究科助教授を経て、現職（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）