X線・中性子による構造解析

目次 : 結晶の周期性とＸ線/ 結晶とその対称性/ Ｘ線の回折と電子密度/ 回折強度の対称性と消滅則：空間群の判定/ 回折強度と構造因子/ 構造因子の位相の決定/ 構造の精密化/ 実際の構造解析：解析ソフトウェアの取扱いとＣＩＦファイル/ 解析結果の整理/ 中性子構造解析/ 粉末構造解析/ 薄膜の構造解析

【著者紹介】
大橋裕二 : １９４１年福井県に生まれる。１９６４年東京大学理学部卒。１９６８年東京大学大学院理学系研究科博士課程中退。２００５年東京工業大学大学院理工学研究科教授定年退職・名誉教授。ＳＰｒｉｎｇ‐８コーディネーター、Ｊ‐ＰＡＲＣコーディネーターを経て、茨城県中性子ビームライン技術顧問。専攻は結晶化学。理学博士

植草秀裕 : １９６４年東京に生まれる。１９９２年慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了。現、東京工業大学大学院理工学研究科准教授。専攻は結晶化学。博士（理学）

大原高志 : １９７２年愛知県に生まれる。２００１年東京工業大学大学院理工学研究科博士課程修了。現、日本原子力研究開発機構Ｊ‐ＰＡＲＣセンター研究副主幹。専攻は中性子回折、結晶化学。博士（理学）

小島優子 : １９６７年東京に生まれる。１９８９年お茶の水女子大学理学部卒。２０００年東京工業大学大学院理工学研究科博士課程修了。現、（株）三菱化学科学技術研究センター主任研究員。専攻は結晶化学、材料科学。博士（理学）

根本隆 : １９６９年東京に生まれる。１９９７年東京工業大学大学院理工学研究科博士課程修了。現、京都大学化学研究所助教。専攻は結晶化学。博士（理学）（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）