Product Details
ISBN/Catalogue Number
:
ISBN 13 : 9784759815757
ISBN 10 : 4759815759
ISBN 10 : 4759815759
Format
:
Books
Release Date
:
August/2014
Content Description
目次 : 1章 X線回折法の原理/ 2章 結晶構造の対称性/ 3章 構造モデルの導出および精密化/ 4章 単結晶育成と測定の用意/ 5章 X線回折強度の測定/ 6章 構造解析の実際の流れ/ 7章 構造解析の落とし穴/ 8章 CIF/ 9章 トラブルシューティング/ 10章 SHELXの使い方
【著者紹介】
大場茂 : 1953年山形県生まれ。1972年秋田県立秋田高校卒業。1976年東北大学理学部化学科卒業。1981年東京大学大学院理学系研究科博士課程修了。慶應義塾大学理工学部化学科助手。1993年同助教授。2001年慶應義塾大学文学部教授。理学博士
植草秀裕 : 1964年東京都生まれ。1983年慶應義塾高等学校卒業。1987年慶應義塾大学理工学部化学科卒業。1992年慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了。東京工業大学理学部化学科助手。1999年東京工業大学大学院理工学研究科助教授。2009年同准教授。理学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
(「BOOK」データベースより)
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