ソフトウェアテストhayst法入門 品質と生産性がアップする直交表の使い方

目次 : ソフトウェアの現状/ 爆発するソフトウェアの開発とテスト/ 直交表によるソフトウェアテストの概要/ ＨＡＹＳＴ法によるテスト戦略/ ＨＡＹＳＴ法で使用する直交表/ 直交表への割付けテクニック/ 禁則の回避/ 組合せ網羅率の検証/ テスト実施とバグの解析法/ 特殊な割付け/ ＨＡＹＳＴ法の実際/ ＨＡＹＳＴ法の組織的展開

【著者紹介】
吉澤正孝 : １９４７年生まれ。１９６６年岩槻光機（株）入社、品質管理課、設計部。１９７１年富士ゼロックス（株）入社、設計部、技術サポート部、ＮＸ運動推進室。１９９０年米国Ｘｅｒｏｘ社へ出向。１９９３年帰国後、１９９６年ＮＸ運動室長、１９９９年経営品質推進部長、２０００年ＤＰＣ商品化プロセス改革部長、２００２年コーポレート経営品質推進部長、２００４年ＣＳＲ部シニアＱＭコンサルタント。デミング賞委員会委員、（財）日本規格協会実験計画法講師、品質工学講師、経営品質協議会運営委員など歴任。品質管理学会会員、品質工学会会員理事。２００３年品質工学会より貢献賞金賞、２００５年日本品質管理学会より品質管理推進功労賞受賞

秋山浩一 : １９６２年生まれ。１９８５年青山学院大学理工学部物理学科卒業。同年富士ゼロックス（株）入社。現在、同社品質本部システム検証部ソフトウェア品質企画Ｇ技術主査。ＮＰＯ法人ソフトウェアテスト技術振興協会理事。日本ソフトウェアテスト資格認定委員会（ＪＳＴＱＢ）ステアリング委員

仙石太郎 : １９８８年富士ゼロックス（株）入社、名古屋支店にてシステムセールスを担当。１９９５年営業力強化推進部に異動、次世代機のマーケティング、ミドル向け選抜研修、顧客価値創造型マーケティング・プログラムを開発。２０００年よりＫＤＩ（Ｋｎｏｗｌｅｄｇｅ　Ｄｙｎａｍｉｃｓ　Ｉｎｉｔｉａｔｉｖｅ）にて知識経営のコンサルティング・サービスの開発・展開に従事。現在、ＫＤＩグループの代表を務める（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）