電子顕微鏡による高分子材料の観察と解析

目次 : 第１章　高分子材料の観察に用いられる電子顕微鏡とは（走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）/ 集束イオンビーム走査電子顕微鏡（ＦＩＢ‐ＳＥＭ）/ 透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）　ほか）/ 第２章　高分子材料とは（高分子材料とはなにか/ 高分子材料にはどのような種類があるのか/ 高分子材料の構造とはなにか　ほか）/ 第３章　高分子材料の観察事例（担当：加藤）（ポリプロピレン（ＰＰ）単結晶凝集体/ ポリエチレン（ＰＥ）ペレットのラメラ/ 疎水性ナノセルロース（ＣＮＦ）配合ＰＥのラメラ　ほか）

【著者紹介】
加藤淳 : １９５４年山形県に生まれる。１９８５年東北大学大学院理学研究科博士課程修了（理学博士）。１９８５年出光石油化学（株）入社。１９８９年日産自動車（株）入社。１９９８年（株）日産アーク出向。２００５年京都大学化学研究所客員助教授。２００６年長岡技術科学大学非常勤講師。２００６年山梨大学工学部非常勤講師。２００９年マテリアルライフ学会総説賞受賞。２０１２年日本ゴム協会第５０回技術有効賞受賞。２０１６年京都工芸繊維大学ゴム科学研究センターシニア・フェロー。現在、株式会社日産アーク現象解析部シニア・エンジニア。専門は高分子材料の分析、解析

荒木祥和 : １９７５年神奈川県に生まれる。１９９８年慶応義塾大学理工学部応用化学科卒業。１９９８年株式会社日産アーク入社。現在、機能解析部構造・反応解析室室長。専門は表面・界面に関わる反応解析（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）