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蛍光x線分析の実際

中井泉

Product Details

Genre
ISBN/Catalogue Number
ISBN 13 : 9784254140729
ISBN 10 : 425414072X
Format
Books
Publisher
Release Date
October/2005
Japan
Co-Writer, Translator, Featured Individuals/organizations
:

Content Description

試料調製、スペクトルなどの基礎から有害元素分析、文化財の非破壊分析などの応用事例を中心にわかりやすく解説。蛍光X線分析法に必要なあらゆる事項を網羅した、蛍光X線分析に携わる人に最適な1冊。

【著者紹介】
中井泉 : 1953年東京都に生まれる。1980年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了。東京理科大学理学部応用化学科・教授。理学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

(「BOOK」データベースより)

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Book Meter Reviews

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  • 本まーちゃん

    なるほどワード:成分分析法の特徴と比較。定性分析と定量分析。2元系検量線の形状。分析用標準物質。像障害の原因と現象。検出下限。

  • ビーグルの匂い

    FP法のチャプターでは具体的な計算例を示して記述されていて理解しやすい。技術書で散見される『解るだろう言わなくても? 説明割愛するよ』のような横柄さが無い。XRFの参考書としては一番。ただし、複数の著者で分担して解説されていて、著者の文章能力の凹凸があり、一部理解困難なチャプターもある。

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