機器分析ハンドブック 3 固体・表面分析編

目次 : 熱分析/ 試料準備（固体試料の溶解/ 分離操作）/ 原子吸光分析法/ 誘導結合プラズマ発光分析法（ＩＣＰ‐ＯＥＳ）・質量分析法（ＩＣＰ‐ＭＳ）/ 蛍光Ｘ線分析法/ Ｘ線回折法/ Ｘ線光電子分光法/ 光学顕微鏡/ 電子顕微鏡（ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＥＰＭＡ）/ プローブ顕微鏡

【著者紹介】
宗林由樹 : 博士（理学）。京都大学大学院理学研究科博士後期課程化学専攻退学。現在、京都大学化学研究所教授。専門分野は水圏科学・分析化学。研究テーマは微量元素・同位体の分析法の開発、微量元素・同位体の水圏化学

辻幸一 : 博士（工学）。東北大学大学院工学研究科博士後期課程修了。現在、大阪市立大学大学院工学研究科教授。専門分野は物理分析化学・Ｘ線分析。研究テーマは微小部蛍光Ｘ線分析法と蛍光Ｘ線元素イメージング法の開発と応用、Ｘ線全反射現象を用いた表面元素分析法の開発と応用

藤原学 : 工学博士。大阪大学大学院工学研究科博士前期課程修了。現在、龍谷大学先端理工学部教授。専門分野は分析化学・錯体化学。研究テーマは金属化合物・考古試料・環境試料および生体試料を対象とした科学分析、分子軌道計算とＸ線光電子分光法を組み合わせた化学結合状態の分析

南秀明 : 学士（工学）。大阪府立大学大学院工学研究科博士前期課程中退。現在、地方独立行政法人京都市産業技術研究所金属系チームチームリーダー。専門分野は分析化学・溶液分析。研究テーマは金属分析のための試料前処理技術の開発、水熱処理による各種材料の化学的変化の解析（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）