信頼性試験技術 信頼性技術叢書

本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。全９章で構成。第１章から第３章では、基本となる信頼性工学の知識や故障解析、信頼性データ解析について解説。また第４章で、信頼性試験の概要と全体像を紹介している。第５章から第７章では、信頼性試験技術特有の知識や技術である、加速試験、信頼性抜取試験、信頼性スクリーニングと信頼性成長試験についてそれぞれ解説。第８章は信頼性試験に関する最新の研究成果を紹介するもので、単行本で取り上げるのは本書が初となる内容である。信頼性試験において新しい問題に直面した場合に、数理的に解決を図るうえで参考となる。また、第９章に著者らの実務経験に基づいて整理した、信頼性試験を進める際の留意事項をまとめている。

目次 : 第１章　信頼性の基礎/ 第２章　故障物理モデルと故障解析/ 第３章　信頼性データ解析の要点/ 第４章　信頼性試験の概念と進め方/ 第５章　加速試験/ 第６章　信頼性抜取試験/ 第７章　信頼性スクリーニングと信頼度成長試験/ 第８章　信頼性試験のフロンティア/ 第９章　信頼性試験運用上の留意点

【著者紹介】
益田昭彦 : １９４０年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。日本電気（株）にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事（本社主席技師長）。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、ＩＥＣ／ＴＣ５６信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。現在、信頼性七つ道具（Ｒ７）実践工房代表、技術コンサルタント。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ａｗａｒｄ（２００７年信頼性技術功績賞）

鈴木和幸 : １９５０年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了、工学博士。電気通信大学名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科特任教授。Ｗｉｌｃｏｘｏｎ　Ａｗａｒｄ（米国品質学会、米国統計学会、１９９９年）、デミング賞本賞（２０１４年）

原田文明 : １９５４年生まれ。東京理科大学卒業。富士ゼロックス（株）で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。現在、Ｄ‐Ｔｅｃｈパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、ＩＥＣ　ＴＣ５６（ディペンダビリティ）専門委員、同国内委員会ＷＧ２（技法）主査

山悟 : １９４９年生まれ。国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師

横川慎二 : １９７０年生まれ。電気通信大学大学院博士前期課程修了。現在、電気通信大学ｉ‐パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域教授、博士（工学）。日経品質管理文献賞（日本品質管理学会編『新版　信頼性ハンドブック』（副編集委員長・分担執筆、２０１４年））、ＩＥＥＥ　Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ｓｏｃｉｅｔｙ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ，２０１３　Ｂｅｓｔ　Ｐａｐｅｒ　Ａｗａｒｄなど（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）