残留応力のx線評価 基礎と応用

目次 : 第１部　残留応力の基礎（応力とひずみ/ 残留応力の発生・評価・制御/ 残留応力と強度評価）/ 第２部　Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料/ Ｘ線と回折/ 多結晶のＸ線応力測定/ Ｘ線応力測定の実際）/ 第３部　Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定/ 中性子回折による応力測定/ 多相材料・複合材料の応力評価/ 表面改質・コーティングの応力評価/ 薄膜の応力評価/ 接合・溶接材の残留応力評価）/ 第４部　結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形/ 単結晶のＸ線応力測定/ 多結晶・多相材料の回析弾性定数/ 繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）/ 付録

【著者紹介】
田中啓介 : １９４３年兵庫県生まれ。１９６６年京都大学工学部機械第２学科卒業。１９７１年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。１９７２年工学博士、京都大学。１９８３年京都大学工学部助教授。１９９１年名古屋大学工学部教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科教授

鈴木賢二 : １９５８年宮城県生まれ。１９８０年新潟大学工学部機械工学科卒業。１９８２年新潟大学大学院修士課程修了、新潟大学教育学部助手。１９８５年新潟大学教育学部講師。１９８９年新潟大学教育学部助教授。１９９３年博士（工学）、名古屋大学。２００４年新潟大学教育人間科学部教授

秋庭義明 : １９５９年山形県生まれ。１９８２年新潟大学工学部機械工学科卒業、京都セラミックス株式会社入社。１９８４年京都大学工学研究科修士課程入学。１９８９年京都大学工学研究科博士課程単位取得退学、九州工業大学工学部講師、工学博士、京都大学。１９９０年九州工業大学工学部助教授。１９９２年名古屋大学工学部助教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科助教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）