Product Details
ISBN 10 : 4526084077
Content Description
目次 : 第1章 商品開発ステップ毎の製品品質の作り込み(トータル品質作りの実現手順/ 仕様 ほか)/ 第2章 効果的な品質評価試験方法(様々な評価方法/ 部品情報の把握 ほか)/ 第3章 深刻な誤動作や故障の発生原因と対策(熱対策/ 電子回路ノイズと対策 ほか)/ 第4章 品質評価の相談と障害対策事例(エレベーター制御基板のEOL対応/ 屋外設置製品の提案と耐久性評価 ほか)/ 付録(第2章の補項目)(SiC MOSFETのAC‐BTI試験)
【著者紹介】
今井康雄 : 1978年に沖エンジニアリング株式会社 入社。2021年取締役を退任、シニアアドバイザーとなり、現在に至る。2010年度日本信頼性学会 優秀記事コラム賞「電子デバイス・モジュールの最新評価技術」。2014年度日本信頼性学会 優秀論文賞「不揮発性メモリの信頼性評価」
多田雅則 : 1997年に沖エンジニアリング株式会社 入社。入社後、計測器の校正業務に従事。直流・交流計測器(デジタルマルチメータ、抵抗計、電力計)、温度計測器(データロガ、恒温槽)、安全関連計測器(耐電圧計、絶縁抵抗計、漏れ電流計)など。その後EMC試験業務に従事。マルチメディア機器・医療機器・車載機器など各カテゴリのEMC試験ならびに製品安全試験について従事、社内技術主査としてEMC試験所の認定取得・維持業務について従事し、現在に至る
芥正二郎 : 1972年早稲田大学卒。2015年より、プラスワンソリューションを設立。製品品質に関連する各種コンサルタントサービスを開始し、現在に至る(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
Customer Reviews
Recommend Items
Feedback
Missing or incorrect information?
Product information of this page .
