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電気機器の静電気対策 設計技術シリーズ

水野彰

Product Details

ISBN/Catalogue Number
ISBN 13 : 9784904774373
ISBN 10 : 490477437X
Format
Books
Publisher
Release Date
October/2015
Japan
Co-Writer, Translator, Featured Individuals/organizations
:
水野彰 ,  

Content Description

【目次】

第1章 帯電・静電気放電の基礎

1.はじめに
2.静電気基礎現象
2−1 電荷とクーロン力
2−2 分極力
3.帯電現象(含む静電気放電)
3−1 帯電現象の概要
3−2 電荷分離
3−3 現実の帯電
3−4 背向電極の重要性
4.静電気測定
4−1 電荷量の測定
4−2 電位測定
4−3 電界測定
4−4 電流測定
4−5 高抵抗測定
4−6 表面電位分布計測
4−7 究極の電荷測定
5.電荷挙動解析
5−1 TSDC
5−2 レーザ圧力波法による空間電荷分布測定
6.静電気放電
7.まとめ
第2章 電子デバイスの静電気対策の動向と静電気学会での取り組み

1.はじめに
2.ESD/EOS Symposium for Factory Issues 概要
3.シンポジウム
3−1 業界別講演者
3−2 講演技術内容
4.ESD/EOS Symposium for Factory Issues トピックス
4−1 電子デバイスの静電気対策
4−2 静電気対策技術
4−3 EMI/EOS問題
5.ワークショップ
6.展示会
7.今後の日本での取り組み
7−1 静電気学会静電気電子デバイス研究委員会の目的・内容
7−2 活動状況
8.まとめ
第3章 静電気放電と電子デバイスの破壊現象

1.はじめに
2.磁気デバイスの静電気破壊の特徴
3.GND放電と浮遊物体間放電
3−1 GND放電のモデル
3−2 浮遊物体間の放電モデル
4.容量間の放電実験
4−1 2物体の容量と電流波形
4−2 2物体容量と電流ピーク値の関係
4−3 2物体容量と放電エネルギーの関係
5.接触抵抗と変化要因
6.物体の容量変化と電位
7.デバイスの静電気破壊モデル
第4章 静電気対策技術としてのイオナイザの選定とその使用方法

1.静電気放電の発生と防止対策について
2.イオナイザの分類
3.コロナ放電型・電圧印加方式イオナイザ
3−1 電圧方式の分類
3−2 無風・微風時の除電能力
3−3 除電対象物の電位変動
3−4 送風時の除電能力
3−5 除電性能の経時変化とメンテナンスについて
3−6 イオナイザの選定
4.イオナイザの設置方法について
5.まとめ
第5章 半導体デバイスの静電気放電対策

1.はじめに
2.放電現象の概要
2−1 放電の発生条件
2−1−1 等電位である異なる直径の2つの導体球の放電開始電界強度
2−1−2 電極間距離が異なる平行平板電極間の放電開始電圧
2−1−3 放電電極形状が異なる場合
2−1−4 物体表面の最大電荷密度
2−1−5 パッシェン則について
2−2 放電エネルギーWについて
2−2−1 火花放電の放電エネルギー
2−2−2 火花放電以外の放電エネルギー
2−3 静電気放電の種類と概要
2−3−1 火花放電:金属−金属間放電
2−3−2 コロナ放電:電界が強い尖端近傍の局所放電
2−3−3 ブラシ放電:曲率が小さい導体から絶縁物へのストリーマが進展した放電
2−3−4 沿面放電:背面設置体がある帯電物体と曲率が小さい導体間の放電
2−3−5 雷状放電:空間電荷雲内で発生する放電
2−3−6 コーン放電:堆積した粉体表面を走る放電
2−3−7 剥離放電
3.デバイスの静電気放電対策
3−1 放電現象からのデバイスの破壊現象について
3−2 基本的な静電気放電対策の考え方
3−2−1 静電気の緩和現象
3−3 その他の静電気放電防止の留意点
4.まとめ
第6章 新しい静電気表面電位測定技術とその応用例

1.はじめに
2.静電気測定器
2−1 ファラデーケージ
2−2 トナー帯電量測定装置(Q/mメーター)
2−3 任意の粉体の帯電量測定装置
2−4 静電電圧計
2−5 静電電界計
2−6 表面電位計
2−7 超高入力インピーダンス回路を有する表面電位計(Ultra Hi-Z ESVM)
2−7−1 Ultra Hi-Z ESVM応用例1-宇宙空間で衛星の帯電測定
2−7−2 Ultra Hi-Z ESVM応用例2-半導体ウエハの帯電測定
2−8 静電気力顕微鏡(Electrostatic Force Microscope)
3.まとめ
第7章 液晶パネル及び半導体デバイス製造における静電気対策

1.はじめに
2.半導体デバイス等の清浄な製造環境における静電気障害
2−1 浮遊微粒子汚染
2−2 静電破壊
3.清浄環境における静電気対策の方法
3−1 シースエア式低発塵イオナイザー(コロナ放電式)
3−2 イオン化気流放出型イオナイザー(微弱X線照射式)
3−2−1 液晶カセット用イオン化気流放出型イオナイザー
3−2−2 チャンバー型無発塵イオナイザー
3−2−3 静電気対策用層流吹出口
3−2−4 防爆型無発塵イオナイザー
4.おわりに
第8章 帯電した人体からの静電気放電で発生する放電電流

1.はじめに
2.放電開始ギャップ長と放電電流波形
2−1 放電開始ギャップ長
2−2 放電開始電界強度の分布
2−3 放電電流波形形状の出現傾向
2−4 放電開始ギャップ長と放電電流波形形状
3.初回の放電で放出される電荷量
4.人体の静電容量による影響
4−1 人体の静電容量
4−2 静電容量による影響
5.指先の皮膚抵抗による影響
6.人体の接近速度による影響
7.放電先の電極形状による影響
7−1 人体の指先からの放電
7−2 人体が握った金属からの放電
7−3 放電極性による傾向の違い

【著者紹介】
水野彰 : 豊橋技術科学大学環境・生命工学系。1978年東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。その後石川島播磨重工業(株)を経て豊橋技術科学大学講師、現在教授。専門は静電気応用工学。静電気学会(会長)、電気学会、応用物理学会、IEEEなど(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

(「BOOK」データベースより)

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