高偉

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Bilingual Edition 精密計測学

高偉

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Product Details

Genre
：
Architecture&Engineering
ISBN/Catalogue Number
：
ISBN 13 : 9784254201789
ISBN 10 : 4254201788
Format
：
Books
Publisher
：
朝倉書店
Release Date
：
March/2024
Release Country
：
Japan
Co-Writer, Translator, Featured Individuals/organizations
:
清水裕樹, 水谷康弘, 道畑正岐, 河野大輔, 吉田一朗, 伊東聡, 清水浩貴 ,  

Content Description

目次 : １　精密計測の基準/ ２　長さスケール/ ３　角度スケール/ ４　時間スケール/ ５　幾何形状と表面性状の計測/ ６　光干渉計/ ７　マシンビジョン/ ８　空間位置計測/ ９　光学顕微鏡/ １０　走査プローブ顕微鏡/ １１　誤差要因と不確かさ/ １２　自律校正法/ １３　機械学習と精密計測/ １４　超短パルスレーザと光周波数コム

【著者紹介】
高偉 : 東北大学大学院工学研究科教授

清水裕樹 : 北海道大学大学院工学研究院教授

水谷康弘 : 大阪大学大学院工学研究科准教授

道畑正岐 : 東京大学大学院工学系研究科准教授

河野大輔 : 京都大学大学院工学研究科准教授

吉田一朗 : 法政大学大学院理工学研究科教授

伊東聡 : 富山県立大学工学部准教授

清水浩貴 : 九州工業大学大学院工学研究院准教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

（「BOOK」データベースより）

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