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ISBN 10 : 4885522749
Content Description
目次 : 第1章 序論/ 第2章 バイポーラトランジスタの動作機構/ 第3章 MOSトランジスタの動作機構/ 第4章 ULSIデバイス構造/ 第5章 微細加工技術/ 第6章 材料プロセス技術/ 第7章 信頼性と検査技術/ 第8章 ULSIの新展開
【著者紹介】
菅野卓雄 : 昭34東大大学院数物電気了、工博。同年、東大・工・電気・講師(専任)、昭35同大学・電子・助教授、昭41同教授、平3工学部長、平4東大名誉教授、東洋大教授、平6東洋大学長、平12同大学理事長、平18東洋大名誉教授、この間固体電子工学の研究、教育に従事。平7紫綬褒章、平18瑞寶重光章、平23文化功労者、昭49本会業績賞、平4本会功績賞、IEEE Jack A.Morton Award、平7IEEE Life Fellow、平13NEC C&C賞、平17応用物理学会業績賞、平19国立交通大学(台湾)栄誉教授、平20国立成功大学(台湾)栄誉教授、平21科学専業奨章(台湾)
伊藤隆司 : 昭44東工大・理工・電子卒、昭49同大学院博士了、工博。同年、富士通株式会社入社、(株)富士通研究所半導体研究部長、シリコンテクノロジ研究所長を経て、平15富士通株式会社技師長兼あきる野テクノロジセンタ長、兼産総研先端SoC連携研究体長。平16東北大大学院工学研究科教授、平22定年退職。東工大特任教授を経て、広島大客員教授。本会、IEEE、JSAP各フェロー。大河内賞、オーム賞、山崎貞一賞、渡辺賞、手島賞、文科大臣表彰科学技術賞、SSDM Award等を各受賞(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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